Microscan延遲塊探(tan)頭(tou)可(ke)在測(ce)量(liang)極薄材(cai)料,溫度*,或要求*厚度分辨率(lv)的應(ying)用中(zhong),發揮(hui)極jia的測(ce)量(liang)性能。
頻率 (MHz) | 晶片 直徑 | 探頭 |
| 支架 | 工件 編號 | |
mm | in. | |||||
0.5 | 25 | 1.00 | M2008* | U8415001 | - | - |
2.25 | 13 | 0.50 | M207-RB | U8410017 | - | - |
5.0 | 13 | 0.50 | M206-RB | U8410016 | - | - |
5.0 | 6 | 0.25 | M201-RM | U8410001 | - | - |
5.0 | 6 | 0.25 | M201H-RM | U8411030 | 2127 | U8770408 |
10 | 6 | 0.25 | M202-RM | U8410003 | - | - |
M202-SM | U8410004 | |||||
10 | 6 | 0.25 | M202H-RM | U8507023 | 2127 | U8770408 |
10 |
| 0.125 | M203-RM | U8410006 | - | - |
M203-SM | U8410007 | |||||
20 | 3 | 0.125 | M208-RM | U8410019 | - | - |
M208-SM | U8410020 | |||||
20 | 3 | 0.125 | M208H-RM | U8410018 | 2133 | U8770412 |
20 | 3 | 0.125 | M2055** | U8415013 | - | - |
30 | 6 | 0.25 | V213-BC-RM** | U8411022 | - | - |
*這些探頭只能與高穿透軟件選項一起使用。
**這些探頭中的延遲塊不能替換。
延遲(chi)塊的作用是在被(bei)測樣件表(biao)面與探頭晶片(pian)之間充當保護性(xing)緩沖器(qi)。
晶片 | 延遲塊 | 大厚度 測量極限* | |||||||
mm | in. | 工件 | 工件 編號 | 鋼(gang)- 模式2 | 鋼- 模式(shi)3 | 塑料- 模式2 | |||
mm | in. | mm | in. | mm | in. | ||||
13 | 0.50 | DLH-2 | U8770062 | 25 | 1.0 | 13 | 0.5 | 13 | 0.5 |
6 | 0.25 | DLH-1 | U8770054 | 25 | 1.0 | 13 | 0.5 | 13 | 0.50 |
3 | 0.125 | DLH-3 | U8770069 | 13 | 0.5 | 5 | 0.2 | 5 | 0.2 |
奧(ao)林巴(ba)斯olympus附加產品
耦(ou)(ou)合(he)劑(ji)為得到探(tan)頭與被測樣件之(zhi)間的聲學耦(ou)(ou)合(he),幾乎(hu)總會需要液體耦(ou)(ou)合(he)劑(ji)。我們(men)所提供(gong)的各種(zhong)耦(ou)(ou)合(he)劑(ji)幾乎(hu)可以(yi)適用(yong)于所有應用(yong)。
試(shi)塊(kuai)(kuai)是(shi)校準超聲(sheng)測厚儀的必要工具,為保持、核查超聲(sheng)測量(liang)的性(xing)、獨立性(xing)及可靠性(xing),一定(ding)要使(shi)(shi)用校準試(shi)塊(kuai)(kuai)。試(shi)塊(kuai)(kuai)所使(shi)(shi)用的公差(cha)標準較(jiao)ASTM E797規(gui)范中表述(shu)的公差(cha)更為嚴格。我們備(bei)有公制單位(wei)的試(shi)塊(kuai)(kuai)。
我們(men)提供適用于所(suo)有超聲測厚儀器的各種探頭線纜。
深圳市偉峰儀器儀表有限公司
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