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日本凱特kett 200系列膜厚計采用了磁性和渦流兩種測厚方法
更新時間:2021-03-23   點擊次數:860次

日本凱特kett 200系列膜厚計

本儀器采用了磁性和渦流兩種測厚方法,可無損的測量磁性金屬基體(如鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆層的厚度(如銅、鋁、鉻、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上的非導電覆層的厚度(如琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。

日本凱特kett 200系列膜厚計技術參數;

格型號LE-200JLH-200JLZ-200J
測定對象磁性金屬上非磁性涂鍍層非磁性金屬上絕緣層磁性金屬上非磁性涂鍍層非磁性金屬上絕緣層
測定范圍0~1500um
或0~60.0mils
0~800um
或0~32.0mils
0~1500um
或0~60.0mils
測定精度<50um±1um ,  >50um±2%
分 辨 率<100um  0.1um ,  >100um  1um
功能統計可設定上/下限數值,可分批統計大值、小值、平均值、標準差。
數據可存儲,可連接電腦,內置打印機、即時打印
計量單位公制、英制可自由切換
顯示方式LCD液晶屏
操作面板密封防水多功能數字鍵盤
隨機附件基體/校正標準片/電池/皮套/說明書/穩壓電源/打印紙
電    源DV6V 5#堿性電池×6個(打印機另需4個),可接穩壓電源
體    積175mm(W)×245(mmD)×31mm(H)
重    量1100g

 

 

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