TT220涂層測厚儀校準方法
為使測量準確，應在測量場所對TT220涂層測厚儀進行校準。一、 TT220涂層測厚儀的校準標準片（包括箔和基體）
已知厚度的箔或已知覆蓋層厚度的試樣均可作為校準標準片。簡稱標準片。
⒈ 校準箔
對TT220涂層測厚儀“箔”是指非磁性金屬或非金屬的箔或墊片。“箔”有利于曲面上的校準。
⒉ 有覆蓋層的標準片
采用已知厚度的、均勻的、并與基體牢固結合的覆蓋層作為標準片。對于本儀器，覆蓋層應是非磁性的。
二、TT220涂層測厚儀的基體
⒈ 對于標準基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與待測試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。為了證實標準片的適用性，可用標準片的基體與待測試件基體上所測得的讀數進行比較。
⒉ 如果待測試件的基體金屬厚度沒有超過參數表中所規定的臨界厚度，可采用下面兩種方法進行校準：
1） 在與待測試件的基體金屬厚度相同的金屬標準片上校準；
2） 用一足夠厚度的，電學或磁學性質相似的金屬襯墊標準片或試件，但必須使基體金屬與襯墊金屬之間無間隙。對兩面有覆蓋層的試件，不能采用襯墊法。
⒊ 如果待測覆蓋層的曲率已達到不能在平面上校準，則有覆蓋層的標準片的曲率或置于校準箔下的基體金屬的曲率，應與試樣的曲率相同。
三、TT220涂層測厚儀的校準方法
有兩種測量中使用的校準方法，零點校準；二點校準；還有一種針對測頭的基本校準。
⒈ TT220涂層測厚儀的零點校準
a． 在基體上進行一次測量，儀器顯示＜×.×μm＞。
b． 按一下“ON/C”鍵，屏顯＜0.00μm＞即完成零點校準。
c． 要準確地校準零點，須重復上述a、b 以獲得基體測量值小于1μm，這樣有利于提高測量精度。零點校準完成后就可進行測量了。
⒉ TT220涂層測厚儀的二點校準
a． 先校零點（見上）。
b． 在厚度大致等于預計的待測覆蓋層厚度的標準片上進行一次測量，屏幕顯示＜×××μm＞。
c． 用▲或▼鍵修正讀數，使其達到標準片上的標稱值。校準已完成，可以開始測量了。
注意：即使顯示結果與標準片值符合，按▲、▼鍵也是*的，例如按一次▲鍵一次▼鍵。如欲較準確地進行二點校準，可重復b、c 過程，以提高校準的精度，減少偶然誤差。
⒊ TT220涂層測厚儀在噴沙表面上校準
噴沙表面的特性導致了測量值大大偏離真值，其覆蓋層厚度大致可用下面的方法確定
a． 儀器要用三、⒈或三、⒉的方法在曲率半徑和基材相同的平滑表面校準好。
b． 在未涂覆的經過同樣噴沙處理的表面測量10 次左右，得到平均值Mo。
c． 然后，在已涂覆的表面上測量10 次得到平均值Mm。
d． （Mm—Mo）±S 即是覆蓋層厚度。其中S（標準偏差）是SMm 和SMo 中較大的一個。
⒋ TT220涂層測厚儀的基本校準
在下述情況下，改變基本校準是有必要的：
──測頭頂端被磨損
──測頭修理后
──特殊的用途
在測量中，如果誤差明顯地超出給定范圍，則應對測頭的特性重新進行校準，稱為基本校準。通過輸入6 個校準值（一個零值和5 個厚度值）可重新校準測頭。
基本校準操作方法如下：
a． 在儀器關閉狀態下按住▼鍵再按ON/C 鍵開機，隨著一聲鳴響即進入基本校準方式。屏幕顯示：B—Calibrate
b． 先校零值（見零點校準）。可連續重復多次，以獲得一個多次校準的平均值，這樣可提高校準的準確性。
c． 使用標準片，按厚度增加的順序做五個厚度的校準（見二點校準中的b、c）。每個厚度應至少是上一個厚度的1.6 倍以上，理想的情況是2倍。例如：50、100、200、400、800μm。zui大值應接近、但低于測頭的zui大測量范圍。
d． 在輸入6 個校準值后，測量一下零點，儀器自動關閉，新的校準值已存入儀器。當再次開機時，儀器將按新的校準值工作。
