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奧林巴斯olympus 45MG超聲波測厚儀

更新時間：2024-06-22

儀器型號：

簡要描述：

產品特性：奧林巴斯推出45MG超聲波測厚儀,奧林巴斯推出45MG超聲波測厚儀,奧林巴斯45MG超聲波測厚儀,奧林巴斯推出45MG超聲波測厚儀

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奧林巴斯推出45MG超聲波測厚儀

產品特性：奧林巴斯推出45MG超聲波測厚儀,奧林巴斯推出45MG超聲波測厚儀,奧林巴斯45MG超聲波測厚儀,奧林巴斯推出45MG超聲波測厚儀
產品簡介：45MG儀器是一款帶有各種標準測量功能和軟件選項的高級超聲測厚儀。

45MG儀器是一款帶有各種標準測量功能和軟件選項的高級超聲測厚儀。這款*特色的儀器與所有Olympus雙晶和單晶測厚探頭兼容，是一款集所有解決方案于一機的創新型儀器，可用于幾乎所有測厚應用。


標準功能

45MG儀器在使用基本配置時，是一款易懂易學、操作簡便的測厚儀，操作人員經過zui基本的培訓，就可完成zui常用的測厚應用。不過，45MG儀器添加了可選軟件選項和探頭后，就會變成一款極為高級的測厚儀，可以進行典型的初級儀器不能完成的應用。此外，大多數選項可以在購買儀器時分別購買，或在日后需要時購買。

  • 與所有Olympus雙晶探頭兼容，可對內部腐蝕的金屬的厚度進行測量
  • zui小值/zui大值模式
  • 兩個報警模式
  • 差值模式
  • 時基B掃描
  • 縮減率
  • 增益調整（標準、高、低）
  • 密碼式儀器鎖定


帶有可選橡膠保護套和支架的45MG儀器

可選功能

只需幾次按鍵，即可完成從簡單腐蝕測厚儀到多功能精確測厚儀的華麗變身。45MG測厚儀提供需密碼激活的5個軟件選項，從而躋身于工業領域中用途zui廣泛的測厚儀行列。

  • 回波到回波/穿透涂層：使用回波到回波選項，儀器屏幕上會顯示金屬的實際厚度，而涂層的厚度會被忽略。穿透涂層選項測量金屬厚度與非金屬涂層的厚度，這兩個厚度都根據它們各自正確的材料聲速值得到了調整。因此，在進行厚度測量時，無需去掉材料表面的漆層或涂層。
  • 單晶： 這個選項可對很多材料，如：金屬、塑料、復合材料、玻璃及陶瓷，進行非常精確的厚度測量。這個選項可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。
  • 單晶高穿透：這個選項可對較厚或衰減性較高的材料，如：玻璃纖維或鑄造金屬，進行厚度測量。可與范圍在0.5 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。這個選項包含單晶選項。
  • 數據記錄器：45MG測厚儀帶有一個功能齊全的內置雙向字母數字式數據記錄器，可方便地存儲和傳輸厚度讀數和波形數據。這個選項包含基于Windows的GageView接口程序。
  • 帶有波形調整功能的實時A掃描： 用戶使用這個可選實時A掃描模式，可以在測厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形（或稱A掃描），核查厚度測量讀數，對增益和空白設置進行手動調整，以在具有挑戰性的應用中zui大限度地增強測量性能。這個極為有益的選項包含手動增益調整、擴展空白、*回波空白、范圍及延遲參數。

抵御惡劣環境的能力

  • 堅固耐用，設計符合IP67標準。
  • 爆炸性氣氛：可在國家防火協會規范（NFPA 70）500節I級2分段D組規定的爆炸性氣氛環境中安全操作，并且通過了美軍標準MIL-STD-810G方法511.4程序I中規定的測試。
  • 防撞擊測試：通過了美軍標準MIL-STD-810G方法516.5程序I中規定的測試，每軸6個循環，15 g，11 msec半弦波。
  • 防振動測試：通過了美軍標準MIL-STD-810G方法514.5程序I附錄C圖6中的測試，一般暴露：每軸1小時。
  • 寬泛的操作溫度范圍
  • 可選的帶有支架的橡膠保護套
 室內A掃描顯示
室內顯示設置，可選A掃描模式

簡便操作的設計理念

  • 可只用右手或左手操作的簡潔的鍵區
  • 可直接訪問大多數功能的簡便易行的操作界面
  • 使用內置MicroSD存儲卡和可插拔MicroSD存儲卡的存儲方式
  • USB通訊端口
  • 可存儲475000個厚度讀數或20000個波形的可選字母數字式數據記錄器
  • 默認或自定義單晶探頭設置（可選）
  • 密碼保護方式的儀器鎖定
  • 彩色透反QVGA顯示，帶有室內和室外顏色設置，具有的清晰度

 


室外顯示設置，可選A掃描模式


45MG的技術規格

 

測量
雙晶探頭測量模式 從激勵脈沖后的精確延遲到*個回波之間的時間間隔。
自動回波到回波（可選） 在兩個連續底面回波之間的時間間隔，不計漆層或涂層的厚度。
穿透涂層測量 （可選） 利用單個底面回波，測量金屬的實際厚度和涂層厚度（使用D7906-SM和D7906探頭）
單晶探頭測量模式（可選） 模式1：激勵脈沖與*個底面回波之間的時間間隔。
模式2：延遲塊回波與*個底面回波之間的時間間隔（使用延遲塊或水浸式探頭）
 模式3：在激勵脈沖之后，位于*個表面回波后的相鄰底面回波之間的時間間隔（使用延遲塊探頭或水浸式探頭）。
厚度范圍 0.080 mm～635 mm（0.003 in.～25.0 in.）視材料、探頭、表面條件、溫度和所選配置而定（要測量zui全的范圍需要使用單晶選項）
材料聲速范圍 0.508 mm/μs～18.699 mm/μs（0.020 in./μs～0.7362 in./μs）
分辨率（可選擇） 低分辨率：0.1毫米（0.01英寸）
標準分辨率：0.01毫米（0.001英寸）
單晶選項：0.001毫米（0.0001英寸）
探頭頻率范圍 標準：2.25 MHz～30 MHz（-3 dB）高穿透（單晶選項）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB）
一般規格
操作溫度范圍 -10 °C～50 °C（14 °F～122 °F）
鍵盤 密封、以色彩區分功能的鍵盤，帶有觸感及聲音反饋
機殼 防撞擊、防水、裝有密封墊的機殼，機殼上的接口密封。設計符合IP67標準。
外型尺寸（寬 x 高 x 厚） 總體尺寸：91.1 mm x 162 mm x 41.1 mm
重量 430.9克
電源 3節AA電池/USB電源供應
電池工作時間 3節AA堿性電池：20到21小時
3節AA鎳氫電池：22到23小時
3節AA鋰離子電池：35到36小時
標準 設計符合EN15317標準

 

顯示
彩色透反QVGA顯示 液晶顯示，顯示屏尺寸：54.61毫米 x 41.15毫米
檢波 全波、RF波、正半波、負半波（波形選項）

 

輸入/輸出
USB 2.0從接口
存儲卡 zui大容量：2 GB可插拔MicroSD存儲卡

 

內置數據記錄器（可選）
數據記錄器 45MG通過USB或MicroSD卡識別、存儲、調用、清除及傳輸厚度讀數、波形圖像和儀器配置信息。
容量 475000個厚度測量讀數，或20000個帶厚度值的波形
文件名稱和ID編碼 32位字符的文件名，20位字符的字母數字位碼
文件結構 6個標準的或自定義的用于特定應用的文件結構
報告 機載報告總結了數據統計和zui小值/zui大值

標準配置

  • 45MG數字式超聲測厚儀
  • AA堿性電池
  • 2階試塊和耦合劑
  • USB線纜
  • 用戶手冊，存于CD盤上
  • 測量功能：zui小值/zui大值模式、兩個報警模式、差值模式、B掃描、縮減率、可編程的鎖定功能

軟件選項

  • 45MG-SE （U8147022）：單晶選項，使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭
  • 45MG-HP （U8147023）：單晶高穿透選項，使用頻率范圍為0.5 MHz～30 MHz的單晶探頭
  • 45MG-EETC （U8147021）：回波到回波和穿透涂層
  • 45MG-WF （U8147019）：波形選項
  • 45MG-DL （U8147020）：內置數據記錄器，包含GageView接口程序

選購附件

  • MICROSSD-ADP-2GB （U8779307）： 2 GB外置MicroSD存儲卡
  • 45MG-RPC （U8779676）： 帶支架的橡膠保護套


45MG測厚儀提供需密碼激活的5個軟件選項，從而躋身于工業領域中用途zui廣泛的測厚儀行列。

  • 回波到回波/穿透涂層
  • 單晶
  • 單晶高穿透
  • 數據記錄器
  • 帶有波形調整功能的實時A掃描

回波到回波/穿透涂層選項

回波到回波

測厚儀使用多個底面回波，顯示不計涂層厚度的實際金屬厚度：

  • 自動回波到回波
  • 手動回波到回波（僅出現于A掃描選項），可進行以下操作：
    • 增益調整
    • 擴展空白
    • 回波空白

穿透涂層技術

 

使用單個底面回波測量金屬的實際厚度。使用這個技術可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個厚度都根據它們各自正確的材料聲速值得到了調整。因此，要得到金屬的厚度，無需去掉表面的漆層和涂層。穿透涂層測量技術使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。 D7906

 

 

 

自動回波到回波模式
顯示A掃描的自動回波到回波模式		 穿透涂層模式
顯示涂層厚度和鋼材料厚度的穿透涂層模式（波形選項未被激活）
手動回波到回波
調整*個回波空白的手動回波到回波模式
顯示可選波形的穿透涂層模式

 

 

 

 

用戶使用單晶軟件選項，可以完成分辨率高達0.001毫米或0.0001英寸的極為精確的厚度測量。可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。

  • 大多數薄材料和厚材料
  • 壁厚薄如0.08毫米（0.003英寸）的塑料瓶、管件、管道及薄片材料
  • 壁厚薄如0.10毫米（0.004英寸）的金屬容器、鋼圈板、機加工部件
  • 汽缸孔、渦輪葉片
  • 玻璃燈泡、瓶子
  • 薄壁玻璃纖維、橡膠、陶瓷及復合材料
  • 曲面部分或內圓角半徑較小的容器

 

用戶使用這個選項可在使用低頻單晶探頭（低到0.5 MHz）的情況下，測量橡膠、纖維玻璃、鑄件及復合材料等較厚或聲波衰減性較強的材料。這個選項包含單晶選項。

  • 大多數較厚或聲音衰減性較強的材料
  • 厚鑄造金屬部件
  • 厚橡膠輪胎、履帶
  • 玻璃纖維船體、儲存罐
  • 復合材料板
  • 對于頻率范圍為0.5 MH到1.0 MHz的探頭，分辨率為0.01毫米（0.001英寸）

 

45MG測厚儀帶有一個功能齊全的內置雙向字母數字式數據記錄器，可方便地存儲和傳輸厚度讀數和波形數據。數據記錄器選項包含GageView接口程序。

數據記錄器選項

  • 內置存儲容量為475000個厚度讀數，或20000個帶有厚度讀數的波形。
  • 32位字符的文件名稱
  • 20位字符的ID#（TML#）編碼
  • 6個文件格式：遞增型、序列型、帶自定義點的序列型、兩維柵格、鍋爐型及通過GageView在PC機上手動創建的文件格式
  • 內置MicroSD存儲卡和可插拔MicroSD存儲卡
  • 可以在內置和可插拔MicroSD存儲卡之間拷貝文件
  • 標準型USB通訊
  • 單晶探頭設置的雙向傳輸
  • 機載統計報告
  • 機載DB柵格視圖，使用3種可編輯的顏色
  • GageView接口程序可與45MG儀器通訊，方法是：
    • 通過USB端口
    • 讀取MicroSD存儲卡上的數據，或在存儲卡上寫入信息
  • 可將內部文件以與Excel兼容的CSV（以逗號分隔值）格式或.txt格式，直接導出到MicroSD存儲卡


在PC機上可以看到以柵格形式出現的數據通過不同顏色清晰地標明超出容差的厚度情況。

測量報告
可以方便地生成并打印包含測量值、ID編碼及其它參數的測量報告。

 

機載數據庫柵格視圖
機載DB柵格視圖，使用3種可編輯的顏色

GageView 接口程序

  • 包含在數據記錄器選項中
  • 基于Windows的GageView接口程序用于收集、創建、打印及管理來自45MG測厚儀的數據
  • 創建數據集和測量總結
  • 編輯所存數據
  • 顯示數據集和測量總結文件。文件包含厚度讀數、測厚儀設置值及探頭設置值
  • 從測厚儀上下載厚度測量總結，或上傳厚度測量總結至測厚儀
  • 將測量總結導出到電子表格及其它程序
  • 收集捕獲的屏幕
  • 打印有關厚度、設置表格、統計及彩色柵格的報告
  • 升級45MG軟件
  • 下載和上傳單晶探頭設置文件

B掃描屏幕
在PC機上可以看到以柵格形式出現的數據通過不同顏色清晰地標明超出容差的厚度情況。

 

 

 

用戶使用這個可選實時A掃描模式，可以在測厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形（或稱A掃描），核查厚度測量讀數，對增益和空白設置進行手動調整，以在具有挑戰性的應用中zui大限度地增強測量性能。這個極為有益的選項包含手動增益調整、擴展空白、*回波空白、范圍及延遲參數。


  • 雙晶探頭，用于腐蝕測厚操作

  • 單晶探頭，用于精確厚度測量

 

所有標準雙晶探頭都具有自動探頭識別功能。這個功能可以為每個特定探頭自動調用默認V聲程校正。

 

探頭 工件編號 頻率（MHz） 連接器 端部直徑mm（in.） 范圍（鋼）*mm（in.） 溫度范圍** °C （°F） 線纜 工件編號
D790 U8450002


5.0

 平直

 

11.00
（0.434）

 

1.00 to 500.00
（0.040 to 20.000）


-20 to 500
（-5 to 932）

 密封 ¯
D790-SM U8450009 平直 LCMD-316-5B† U8800353
D790-RL U8450007 90° LCLD-316-5G† U8800330
D790-SL U8450008 平直 LCLD-316-5H U8800331
D791 U8450010

5.0

 90° 11.00
（0.434）		 1.00～500.00
（0.040～20.000）		 -20～500
（-5～932）		 密封 ¯
D791-RM U8450011 5.0 90° 11.00
（0.434）		 1.00～500.00
（0.040～20.000）		 -20～400
（-5～752）		 LCMD-316-5C U8800345
D792 U8450012 10 平直 7.20
（0.283）		 0.50～25.00
（0.020 to 1.000）		 0～50
（32～122）		 密封 ¯
D793 U8450013 90° 密封 ¯
D794 U8450014 5.0 平直 7.20
（0.283）		 0.75～50.00
（0.030～2.000）		 0～50
（32～122）		 密封 ¯
D797 U8450016 2.0 90° 22.90
（0.900）		 3.80～635.00
（0.150～25.000）		 -20～400
（-5～752）		 密封 ¯
D797-SM U8450017 平直 LCMD-316-5D U8800355
D7226 U8454013 7.5 90° 8.90
（0.350）		 0.71～100.00
（0.028～4.000）		 -20～150
（-5～300）		 密封 ¯
D798-LF U8450019
D798 U8450018 7.5 90° 7.20
（0.283）		 0.71～100.00
（0.028～4.000）		 -20～150
（-5～300）		 密封 ¯
D798-SM U8450020 平直 LCMD-316-5J U8800357
D799 U8450021 5.0 90° 11.00
（0.434）		 1.00～500.00
（0.040～20.000）		 -20～150
（-5～300）		 密封 ¯
MTD705 U8620225 5.0 90° 5.10
（0.200）		 1.00～19.00
（0.040～0.750）		 0～50
（32～122）		 LCPD-78-5 U8800332
D7906-SM†† U8450005 5.0 平直 11.00
（0.434）		 1.00～50.00
（0.040～2.000）		 0～50
（32～122）		 LCMD-316-5L U8800358
D7906-RM†† U8450025 90° LCMD-316-5N U8800647
D7908 U8450006 7.5 90° 7.20
（0.283）		 1.00～37.00
（0.040～1.500）		 0～50
（32～122）		 密封 ¯
*厚度范圍取決于材料、探頭類型、表面條件和溫度。 †可提供不銹鋼線纜；欲查詢詳情，請與Olympus NDT。
**zui高溫度下，僅使用間歇接觸。 ††使用穿透涂層技術的探頭。

單晶探頭，用于精確厚度測量

接觸式探頭

 

 

 

頻率 晶片直徑
探頭
工件編號
mm in.
0.5 25 1.00 M101-SB* U8400017
1.0 25 1.00 M102-SB* U8400018
1.0 13 0.5 M103-SB* U8400020
2.25 13 0.5 M106-RM U8400023
M106-SM U8400025
2.25 13 0.5 M1036 U8400020

5.0

 13 0.5 M109-RM U8400027
M109-SM U8400028
5.0 6 0.25 M110-RM U8400030
M110-SM
M110H-RM**		 U8400031
U8400029
10 6 0.25 M112-RM
M112-SM		 U8400034
U8400035
U8400033
M112H-RM** U8400033
10 3 0.125 M1016 U8400015
20 3 0.125 M116-RM U8400038
M116-SM U8400039
20 3 0.125 M116H-RM** U8400037

*這些探頭只能與高穿透軟件選項一起使用。
**需使用彈簧加載支架。

Sonopen 探頭

Sonopen探頭的延遲塊可以更換，其端部為錐形，可接觸到極其狹窄的區域。這種探頭可以在測量渦輪葉片厚度及塑料容器的內圓角的厚度等應用中提供可靠的厚度讀數。

Sonopen - 15 MHz，3 mm（0.125 in.）探頭

 

平直手柄 直角手柄 45°手柄
工件 工件
編號		 工件 工件
編號		 工件 工件
編號
V260-SM U8411019 V260-RM U8411018 V260-45 U8411017

Sonopen - 可替換的延遲塊

*直徑 工件 工件
編號
mm in.
2.0 0.080 DLP-3 U8770086
1.5 0.060 DLP-302 U8770088
2.0 0.080 DLP-301† U8770087

†高溫延遲，可用于高達175°C的溫度。

水浸探頭

Panametrics Microscan水浸探頭的設計目的是在水中傳播并接收超聲波。當被測樣件的幾何形狀較為復雜或進行在線檢測時，通過水浸技術獲得的厚度讀數通常更為可靠。典型的離線應用包含對小直徑塑料或金屬管件的壁厚測量，掃查或旋轉測量，以及對大幅彎曲的樣件進行的厚度測量。在某些應用中可能需要探頭觸及到極其狹小的區域。

 

頻率
（MHz）		 晶片直徑
探頭


工件編號
mm in.
2.25 13 0.50 M306-SU U8410027
5.0 13 0.50 M309-SU U8420001
5.0 6 0.25 M310-SU U8420004
10 6 0.25 M312-SU U8420008
15 6 0.25 M313-SU U8420009
20 3 0.125 M316-SU U8420011

 

RBS-1水浸箱

RBS-1水浸箱的設計目的是簡化利用水浸技術的超聲測厚操作。

延遲塊探頭

Microscan延遲塊探頭可在測量極薄材料，溫度*，或要求*厚度分辨率的應用中，發揮的測量性能。

 

頻率
（MHz）		 晶片
直徑
探頭


工件
編號
支架
工件
編號
mm in.
0.5 25 1.00 M2008* U8415001 - -
2.25 13 0.50 M207-RB U8410017 - -
5.0 13 0.50 M206-RB U8410016 - -
5.0 6 0.25 M201-RM U8410001 - -
5.0 6 0.25 M201H-RM U8411030 2127 U8770408

10
6
0.25		 M202-RM U8410003
-
-
M202-SM U8410004
10 6 0.25 M202H-RM U8507023 2127 U8770408

10


3
0.125		 M203-RM U8410006
-
-
M203-SM U8410007

20
3
0.125		 M208-RM U8410019

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