美國UVP公司B-100Y表面晶粒檢查燈

美國UVP公司B-100Y表面晶粒檢查燈可(ke)快速檢查(cha)加工(gong)表面的瑕疵，灰(hui)塵，異物等

表面晶粒檢查(cha)燈應用：LCD濾光片(pian)、偏光板、晶圓、半導體、玻璃或金(jin)屬(shu)表面刮痕及灰塵檢查(cha)

主要特點

• 檢查精密加工表面的瑕疵、污點、異物等
• 快速無損檢測小至10微米的瑕疵、小顆粒
• 有效地探測出生產過程是早期的污物，節省生產時間及不必要的成本
• 100瓦高強度汞燈發出543,574及576nm波長光譜
• 特制的黃色濾色片濾掉波長小于500nm的光線，防止產生熒光干擾
• 高對比度的光線能清晰檢測到精細的表面粒子
• B-100Y是鋁合金外殼; B-100YP帶塑料外殼
• 燈頭人體工學設計，易于操作

B-100Y和B-100YP

黃(huang)色濾(lv)光(guang)片能濾(lv)掉波長小于(yu)500nm的(de)光(guang)線，產生543nm、574和576nm的(de)光(guang)線。高對(dui)比度的(de)光(guang)線可檢測表面小于(yu)10微米的(de)顆(ke)粒。b-100Y鋁(lv)合(he)金外(wai)殼(ke)，B-100YP帶(dai)塑料外(wai)殼(ke)。

規格

UV光源：365nm長波紫外線
功率：100W
濾色片：黃光
尺寸：
B-100Y：216X140mm
重量：5.33kg
電源線：2.44米
B-100YP：248X152mm
重量：5.67kg
電源線：2.44米

型號